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EDI膜塊常見(jiàn)故障分析
時(shí)間:2023-08-23 作者:純水一號(hào)
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EDI是常見(jiàn)的超純水處理設(shè)備,長(zhǎng)時(shí)間的使用EDI設(shè)備,會(huì)導(dǎo)致一系列的問(wèn)題,故障或大或小,都會(huì)度純水edi模塊正常使用甚至是它的使用壽命造成影響,下面讓我們來(lái)了解一下解決故障的方法吧。


1. EDI操作電壓過(guò)高,電流無(wú)法調(diào)節(jié)增大:進(jìn)水硬度過(guò)高,EDI內(nèi)部結(jié)垢、EDI來(lái)水壓力過(guò)高等問(wèn)題,使EDI在運(yùn)行過(guò)程中經(jīng)常出現(xiàn)水錘現(xiàn)象。


2. 如果EDI流量過(guò)低,水質(zhì)會(huì)惡化,壓差會(huì)增大:進(jìn)水的余氯、硬度和硅含量會(huì)過(guò)高。入水前沒(méi)有安全過(guò)濾器。


3. EDI進(jìn)水正常,壓力正常,但水質(zhì)過(guò)低,樹(shù)脂的功能降低,大電流可再生。


4. EDI模塊漏水:進(jìn)水壓力過(guò)高,螺栓松動(dòng)。


5. EDI模板硬件變形:在大電流、小流量下運(yùn)行,在有電、無(wú)水兩種情況下運(yùn)行。


6. 電子數(shù)據(jù)交換水通道:內(nèi)部隔膜穿孔,造成高水硬度和EDI干燒。

電阻率升高:EDI設(shè)備表現(xiàn)出電阻率增加,表明膜塊受到污染。


脫鹽效率的下降可能與膜塊的老化或損壞有關(guān)。膜塊的老化會(huì)導(dǎo)致離子選擇性的降低,離子的去除不再有效。在這種情況下,膜塊需要更換。有機(jī)物、微生物或顆粒物可能積聚在膜塊表面,降低脫鹽效率。這種污染可以通過(guò)適當(dāng)?shù)那鍧嵢芤汉统绦騺?lái)減輕。


物理?yè)p壞或膜塊破裂也會(huì)導(dǎo)致性能下降。損壞的膜塊需要更換。膜組件中的電極可能會(huì)發(fā)生故障,例如開(kāi)路或短路,這會(huì)影響EDI設(shè)備的性能。電極需要檢查和修復(fù)。如果電流在膜塊中分布不均勻,則局部脫鹽效率會(huì)降低。電流分配系統(tǒng)需要重新設(shè)計(jì)或更換電極。


當(dāng)然,溫度對(duì)EDI模塊的性能至關(guān)重要。如果溫度控制不當(dāng),脫鹽效率可能會(huì)下降。重要的是確保設(shè)備能夠穩(wěn)定地控制溫度。


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